Список обзорных статей электронной библиотеки IEEEXplore
(2006–2016)
(дата формирования 25.11.2016)

---

Выделить слова в названиях обзоров:

N п/п	Название обзора	Перевод названия	DOI	Кол-во стр.	Объём файла
''МИКРОЭЛЕКТРОНИКА''
1	Ge GAA FETs and TMD FinFETs for the Applications Beyond Si — A Review	Ge GAA FET и TMD FinFET для приложений, выходящих за пределы Si — обзор	10.1109/JEDS.2016.2590580	7	2466 кБ
2	ISFETs in CMOS and Emergent Trends in Instrumentation: A Review	ISFET в CMOS и новые тенденции в приборостроении: обзор	10.1109/JSEN.2016.2585920	18	3880 кБ
3	Wafer-to-Wafer Alignment for Three-Dimensional Integration: A Review	Выравнивание пластин к пластине для трехмерной интеграции: обзор	10.1109/JMEMS.2011.2148161	13	1251 кБ
4	Microscale Liquid-Metal Switches — A Review	Жидкометаллические микропереключатели — обзор	10.1109/TIE.2008.2006954	16	2421 кБ
5	CMOS Interfacing for Integrated Gas Sensors: A Review	Интерфейс CMOS для встроенных датчиков газа: обзор	10.1109/JSEN.2010.2046409	15	3041 кБ
6	A Historical Review of Low-Power, Low-Voltage Digital MOS Circuits Development	Исторический обзор разработки маломощных низковольтных цифровых МОП-схем	10.1109/MSSC.2012.2230833	12	2215 кБ
7	CMOS Differential Ring Oscillators: Review of the Performance of CMOS ROs in Communication Systems	КМОП-генераторы дифференциального кольца: обзор производительности КМОП-RO в системах связи	10.1109/MMM.2013.2259401	12	4372 кБ
8	Compact DC Modeling of Organic Field-Effect Transistors: Review and Perspectives	Компактное моделирование постоянного тока органических полевых транзисторов: обзор и перспективы	10.1109/TED.2013.2281054	9	1639 кБ
9	FPGA Design Methodology for Industrial Control Systems — A Review	Методология проектирования ПЛИС для промышленных систем управления — обзор	10.1109/TIE.2007.898281	18	1192 кБ
10	Single Transistor-Based Methods for Determining the Base Resistance in SiGe HBTs: Review and Evaluation Across Different Technologies	Методы определения сопротивления базы в SiGe HBT на основе одного транзистора: обзор и оценка для различных технологий	10.1109/TED.2016.2620601	11	2462 кБ
11	Methods for Determining the Emitter Resistance in SiGe HBTs: A Review and an Evaluation Across Technology Generations	Методы определения сопротивления эмиттера в SiGe HBT: обзор и оценка для разных поколений технологий	10.1109/TED.2015.2412776	11	1986 кБ
12	A Mini Review of Neuromorphic Architectures and Implementations	Мини-обзор нейроморфных архитектур и реализаций	10.1109/TED.2016.2598413	10	2732 кБ
13	An Order Fulfillment Model With Periodic Review Mechanism in Semiconductor Foundry Plants	Модель выполнения заказа с механизмом периодической проверки на литейных заводах по производству полупроводников	10.1109/TSM.2014.2342493	11	2444 кБ
14	III-V Nanowire Transistors for Low-Power Logic Applications: A Review and Outlook	Нанопроводниковые транзисторы III-V для маломощных логических приложений: обзор и перспективы	10.1109/TED.2015.2498923	11	2182 кБ
15	A Review of GaN on SiC High Electron-Mobility Power Transistors and MMICs	Обзор GaN на силовых транзисторах SiC с высокой подвижностью электронов и MMIC	10.1109/TMTT.2012.2187535	19	3801 кБ
16	Review of gate-level differential power analysis and fault analysis countermeasures	Обзор анализа дифференциальной мощности на уровне затвора и контрмер анализа неисправностей	10.1049/iet-ifs.2012.0319	15	881 кБ
17	Review of On-Chip Inductor Structures With Magnetic Films	Обзор внутрикристальных индукторных структур с магнитными пленками	10.1109/TMAG.2009.2030590	6	1723 кБ
18	Review and Analysis of the Radiation-Induced Degradation Observed for the Input Bias Current of Linear Integrated Circuits	Обзор и анализ радиационно-индуцированной деградации, наблюдаемой для входного тока смещения линейных интегральных схем	10.1109/TNS.2008.2006835	7	1084 кБ
19	Review and Critique of Analytic Models of MOSFET Short-Channel Effects in Subthreshold	Обзор и критика аналитических моделей эффектов короткого канала MOSFET в подпороговом режиме	10.1109/TED.2012.2191556	10	458 кБ
20	Review and Reexamination of Reliability Effects Related to NBTI-Induced Statistical Variations	Обзор и повторное изучение эффектов надежности, связанных со статистическими вариациями, вызванными нестабильностью температурной нестабильности	10.1109/TDMR.2007.910437	6	369 кБ
21	Review of Integrated Magnetics for Power Supply on Chip (PwrSoC)	Обзор интегрированных магнитных компонентов для блока питания на кристалле (PwrSoC)	10.1109/TPEL.2012.2198891	17	971 кБ
22	A Review of Watt-Level CMOS RF Power Amplifiers	Обзор КМОП ВЧ усилителей мощности с мощностью порядка ватта	10.1109/TMTT.2013.2292608	13	947 кБ
23	A Review on Compact Modeling of Multiple-Gate MOSFETs	Обзор компактного моделирования полевых МОП-транзисторов с несколькими затворами	10.1109/TCSI.2009.2028416	11	2081 кБ
24	A Literature Review on Sampling Techniques in Semiconductor Manufacturing	Обзор литературы по методам отбора проб в производстве полупроводников	10.1109/TSM.2013.2256943	7	93 кБ
25	Review of test methods used for the measurement of hermeticity in packages containing small cavities	Обзор методов испытаний, используемых для измерения герметичности упаковок, содержащих небольшие полости	10.1109/TCPMT.2011.2176122	8	344 кБ
26	A Review on the Reliability of GaN-Based LEDs	Обзор надежности светодиодов на основе GaN	10.1109/TDMR.2008.921527	8	370 кБ
27	A Review of Core Compact Models for Undoped Double-Gate SOI MOSFETs	Обзор основных компактных моделей для нелегированных КНИ МОП-транзисторов с двойным затвором	10.1109/TED.2006.887046	9	288 кБ
28	Review of Silicon Power Semiconductor Technologies for Power Supply on Chip and Power Supply in Package Applications	Обзор полупроводниковых технологий Silicon Power для источников питания на кристалле и источников питания в корпусных приложениях	10.1109/TPEL.2013.2242095	13	1740 кБ
29	Review of Packaging of Optoelectronic, Photonic, and MEMS Components	Обзор упаковки оптоэлектронных, фотонных и МЭМС компонентов	10.1109/JSTQE.2011.2113171	15	1826 кБ
30	A Review on the ESD Robustness of Drain-Extended MOS Devices	Обзор устойчивости МОП-устройств с расширенным стоком к электростатическим разрядам	10.1109/TDMR.2012.2220358	10	2457 кБ
31	A Review on the Physical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs	Обзор физических механизмов, ограничивающих надежность светодиодов на основе GaN	10.1109/TED.2009.2033649	10	1762 кБ
32	Review: Semiconductor Piezoresistance for Microsystems	Обзор: полупроводниковое пьезосопротивление для микросистем	10.1109/JPROC.2009.2013612	39	3952 кБ
33	Single Event Transients in Digital CMOS — A Review	Однособытийные переходные процессы в цифровых КМОП — обзор	10.1109/TNS.2013.2255624	23	2830 кБ
34	Debug support for complex systems on-chip: a review	Поддержка отладки сложных систем на кристалле: обзор	10.1049/ip-cdt:20050194	10	586 кБ
35	Noise Limits of CMOS Current Interfaces for Biosensors: A Review	Пределы шума современных КМОП-интерфейсов для биосенсоров: обзор	10.1109/TBCAS.2013.2262998	14	3116 кБ
36	Predicting module level RF emissions from IC emissions measurements using a 1 GHz TEM or GTEM cell — A review of related published technical papers	Прогнозирование радиочастотных излучений на уровне модуля на основе измерений излучений ИС с использованием ячейки TEM или GTEM с частотой 1 ГГц — обзор соответствующих опубликованных технических документов	10.1109/MEMC.2012.6244956	5	2443 кБ
37	Low-Temperature Microwave Annealing Processes for Future IC Fabrication — A Review	Процессы низкотемпературного микроволнового отжига для изготовления ИС в будущем — обзор	10.1109/TED.2014.2300898	14	7482 кБ
38	Anode Engineering for the Insulated Gate Bipolar Transistor — A Comparative Review	Разработка анода для биполярного транзистора с изолированным затвором — сравнительный обзор	10.1109/TPEL.2007.900557	9	1108 кБ
39	Advanced Features and Industrial Applications of FPGAs — A Review	Расширенные возможности и промышленное применение ПЛИС — обзор	10.1109/TII.2015.2431223	11	1025 кБ
40	Solid-State Lighting: A System Review	Твердотельное освещение: обзор системы	10.1109/MIE.2013.2280038	8	1719 кБ
41	Expression technology — A review of the performance and interpretation of expression microarrays	Технология экспрессии — обзор производительности и интерпретации экспрессионных микрочипов.	10.1109/MSP.2007.273050	8	1765 кБ
42	Current-Mode Approach in Power Supplies for DBD Excilamps: Review of 4 Topologies	Токовый подход в источниках питания для эксиламп DBD: обзор четырех топологий	10.1109/TPS.2014.2370796	8	2460 кБ
43	ZnO Devices and Applications: A Review of Current Status and Future Prospects	Устройства и приложения ZnO: обзор текущего состояния и перспективы на будущее	10.1109/JPROC.2010.2044550	13	1203 кБ
44	Physics-of-Failure, Condition Monitoring, and Prognostics of Insulated Gate Bipolar Transistor Modules: A Review	Физика отказа, мониторинг состояния и прогнозирование биполярных транзисторных модулей с изолированным затвором: обзор	10.1109/TPEL.2014.2346485	13	675 кБ
		© ПАТ-Инфо, В. И. Карнышев, 2022