Список обзорных статей электронной библиотеки IEEEXplore
(2006–2016)
(дата формирования 25.11.2016)
|
N п/п | Название обзора | Перевод названия | DOI | Кол-во стр. | Объём файла |
''НАДЕЖНОСТЬ, КАЧЕСТВО'' | |||||
1 | A Fast QC Method for Testing Contact Hole Roughness by Defect Review SEM Image Analysis | Быстрый метод контроля качества для проверки шероховатости контактных отверстий с помощью анализа изображений SEM для просмотра дефектов | 10.1109/TSM.2008.2005359 | 5 | 1726 кБ |
2 | A Comprehensive Review of Catastrophic Faults in PV Arrays: Types, Detection, and Mitigation Techniques | Всесторонний обзор катастрофических отказов в фотоэлектрических массивах: типы, методы обнаружения и уменьшение последствий | 10.1109/JPHOTOV.2015.2397599 | 15 | 1164 кБ |
3 | Critical Review of the Engelmaier Model for Solder Joint Creep Fatigue Reliability | Критический обзор модели Энгельмайера для определения усталостной надежности паяных соединений | 10.1109/TCAPT.2009.2030983 | 7 | 268 кБ |
4 | Characterization Methods for Ultrathin Wafer and Die Quality: A Review | Методы определения качества ультратонких пластин и кристаллов: обзор | 10.1109/TCPMT.2014.2363570 | 15 | 3515 кБ |
5 | Review of Automatic Fault Diagnosis Systems Using Audio and Vibration Signals | Обзор систем автоматической диагностики неисправностей с использованием звуковых и вибрационных сигналов | 10.1109/TSMCC.2013.2257752 | 10 | 904 кБ |
6 | State-of-the-Art Review of Technologies for Pipe Structural Health Monitoring | Обзор современного состояния технологий контроля состояния конструкций труб | 10.1109/JSEN.2011.2181161 | 5 | 620 кБ |
7 | Review of Device and Reliability Physics of Dielectrics in Electrostatically Driven MEMS Devices | Обзор физики устройств и надежности диэлектриков в электростатических устройствах МЭМС | 10.1109/TDMR.2009.2020565 | 12 | 394 кБ |
8 | Assessment of repairable-system reliability using proportional intensity models: a review | Оценка надежности ремонтопригодной системы с использованием моделей пропорциональной интенсивности: обзор | 10.1109/TR.2006.874938 | 8 | 248 кБ |
© ПАТ-Инфо, В. И. Карнышев, 2022 |