Библиографическая ссылка на патент
Pat. 10054647 United States, Int. Cl.22 G01R 31/40, H02H 3/04, H02H 3/44, H02H 7/10, H02M 1/32, H02M 3/156. Fault detection : Appl. N 14/486419 : Filed 15.09.2014 : Pub. 21.08.2018 : / Sean S. Chen ; Assignee Atmel Corp ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US10054647/en?oq=US10054647.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).