Библиографическая ссылка на патент
Pat. 10345368 United States, Int. Cl.22 G01R 31/02, G01R 1/04, G01R 31/14, G01R 31/40, H02M 1/00, G01R 31/327, H02M 1/10, H02M 7/06. Circuit arrangement for high-voltage tests and high-voltage testing system : Appl. N 15/545476 : Filed 07.01.2016 : Pub. 09.07.2019 : / Markus Bock ; Assignee Siemens Ag ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US10345368/en?oq=US10345368.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).