Библиографическая ссылка на патент
Pat. 10551417 United States, Int. Cl.22 G01R 27/26, G01R 13/20, G01R 19/00, G01R 19/25, G01R 31/08, G01R 31/40, H02M 3/06. Inductor current measurement probe : Appl. N 15/803309 : Filed 03.11.2017 : Pub. 04.02.2020 : / Istvan Novak, Peter J. Pupalaikis, Lawrence W. Jacobs ; Assignee Oracle International Corp ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US10551417/en?oq=US10551417.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).