Библиографическая ссылка на патент
Pat. 10958157 United States, Int. Cl.22 H02P 25/22, G01R 31/42, H02M 1/32, H02M 7/5387, H02P 21/14, H02P 23/14, H02P 27/06. Inspection apparatus, inspection method, and inverter apparatus : Appl. N 16/112580 : Filed 24.08.2018 : Pub. 23.03.2021 : / Shigen Yasunaka, Shinji Takakura ; Assignee Toshiba Corp ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US10958157/en?oq=US10958157.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).