Библиографическая ссылка на патент
Pat. 11112455 United States, Int. Cl.22 G01R 31/317, G01R 31/3187, G01R 31/319, G01R 31/3193, H02M 1/32, H02M 3/158, G01R 31/34. Built-in self-test circuits and related methods : Appl. N 16/286413 : Filed 26.02.2019 : Pub. 07.09.2021 : / Jacco Van Oevelen ; Assignee Texas Instruments Inc ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US11112455/en?oq=US11112455.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).