Библиографическая ссылка на патент
Pat. 11372031 United States, Int. Cl.22 G03G 15/00, G01R 1/28, G01R 19/165, G01R 31/40, H02M 3/335. Defect detection in high voltage power supply apparatus : Appl. N 17/274015 : Filed 11.09.2019 : Pub. 28.06.2022 : / Kwanghoon Cheon, Jinyun Park, Jonghwa Cho ; Assignee Hewlett Packard Development Co Lp ; NN p. : patents.google.com : URL: https://patents.google.com/patent/US11372031/en?oq=US11372031.html (дата обращения: ДД.ММ.ГГГГ).