Выделить в тексте слова:

                                                  

G01Q - Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда (SPM) [2010.01]


Примечание
В этом подклассе применяется правило первой подходящей рубрики, т.е. на каждом иерархическом уровне классифицирование проводится в первой подходящей рубрике. [2010.01]

G01Q 10/00Устройства сканирования или позиционирования, т.е. устройства для активного управления движением или положением зонда [2010.01]
G01Q 10/02     .грубое сканирование или позиционирование [2010.01]
G01Q 10/04     .тонкое сканирование или позиционирование [2010.01]
G01Q 10/06     ..схемы или алгоритмы для этого [2010.01]
G01Q 20/00Мониторинг перемещения или положения зонда [2010.01]
G01Q 20/02     .с помощью оптических средств [2010.01]
G01Q 20/04     .самоопределяющиеся зонды, т.е. когда зонд сам генерирует сигнал о своём местонахождении, например пьезоэлектрический тензодатчик [2010.01]
G01Q 30/00Вспомогательные средства, служащие для облегчения или улучшения применения методов или устройств сканирующего зонда, например дисплеи или устройства обработки данных [2010.01]
G01Q 30/02     .устройства не относящиеся к типу SPM анализирующих устройств, например SEM (Сканирующий Электронный Микроскоп), спектрометр или оптический микроскоп [2010.01]
G01Q 30/04     .дисплеи или устройства обработки данных [2010.01]
G01Q 30/06     ..для компенсации ошибок [2010.01]
G01Q 30/08     .средства для установления или регулировки желательных условий среды внутри камеры образцов [2010.01]
G01Q 30/10     ..температурной среды [2010.01]
G01Q 30/12     ..текучей среды [2010.01]
G01Q 30/14     ...жидкой среды [2010.01]
G01Q 30/16     ..вакуумной среды [2010.01]
G01Q 30/18     .средства для защиты или изоляции внутренней части камеры образцов от воздействий внешней среды или влияния внешних вредных условий, например вибраций или электромагнитных полей [2010.01]
G01Q 30/20     .устройства или способы манипулирования образцами [2010.01]
G01Q 40/00Калибровка, например зондов [2010.01]
G01Q 40/02     .калибровочные стандарты и способы их изготовления [2010.01]
G01Q 60/00Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них [2010.01]
G01Q 60/02     .SPM множественного типа, т.е. включающая два или более вида техники SPM [2010.01]
G01Q 60/04     ..сканирующая туннельная микроскопия (STM), комбинированная с атомной силовой микроскопией (AFM) [2010.01]
G01Q 60/06     ..сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля (SNOM), комбинированная с атомной силовой микроскопией (AFM) [2010.01]
G01Q 60/08     ..магнитная силовая микроскопия (MFM), комбинированная с атомной силовой микроскопией (AFM) [2010.01]
G01Q 60/10     .сканирующая туннельная микроскопия (STM) или устройства для нее, например STM зонды [2010.01]
G01Q 60/12     ..сканирующая туннельная спектроскопия (STS) [2010.01]
G01Q 60/14     ..сканирующая туннельная потенциометрия (STP) [2010.01]
G01Q 60/16     ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели [2010.01]
G01Q 60/18     .сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля (SNOM) или устройства для нее, например SNOM зонды [2010.01]
G01Q 60/20     ..флюоресценция [2010.01]
G01Q 60/22     ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели [2010.01]
G01Q 60/24     .атомная силовая микроскопия (AFM) или устройства для нее, например AFM зонды [2010.01]
G01Q 60/26     ..микроскопия сил трения [2010.01]
G01Q 60/28     ..микроскопия адгезионных сил [2010.01]
G01Q 60/30     ..сканирующая потенциальная микроскопия [2010.01]
G01Q 60/32     ..переменный режим [2010.01]
G01Q 60/34     ...режим периодического касания [2010.01]
G01Q 60/36     ..постоянный режим [2010.01]
G01Q 60/38     ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели [2010.01]
G01Q 60/40     ...проводящие зонды [2010.01]
G01Q 60/42     ...функционализация [2010.01]
G01Q 60/44     .сканирующая ионопроводящая микроскопия (SICM) или устройства для нее, например SICM зонды [2010.01]
G01Q 60/46     .сканирующая ёмкостная микроскопия (SCM) или устройства для нее, например SCM зонды [2010.01]
G01Q 60/48     ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели [2010.01]
G01Q 60/50     .магнитносиловая микроскопия (MFM) или устройства для нее, например MFM зонды [2010.01]
G01Q 60/52     ..резонанс [2010.01]
G01Q 60/54     ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели [2010.01]
G01Q 60/56     ...зонды с магнитным покрытием [2010.01]
G01Q 60/58     .сканирующая термальная микроскопия (SThM) или устройства для нее, например SThM зонды [2010.01]
G01Q 60/60     .сканирующая электрохимическая микроскопия (SECM) или устройства для нее, например SЕCM [2010.01]
G01Q 70/00Общие аспекты SPM зондов, их изготовление или относящееся к ним оснащение в той мере, в какой эти зонды не являются специально предназначенными для одного конкретного типа техники SPM, охватываемых одной из групп  G01Q 60/00 [2010.01]
G01Q 70/02     .держатели зондов [2010.01]
G01Q 70/04     ..с компенсацией ошибок, вызванных температурой или вибрацией [2010.01]
G01Q 70/06     .матрицы наконечников зондов [2010.01]
G01Q 70/08     .характеристики зондов [2010.01]
G01Q 70/10     ..фасонная или конусная форма наконечника [2010.01]
G01Q 70/12     ...наконечники в виде нанотрубок [2010.01]
G01Q 70/14     ..особые материалы [2010.01]
G01Q 70/16     .изготовление зондов [2010.01]
G01Q 70/18     ..функционализация [2010.01]
G01Q 80/00Применение методов сканирующего зонда иное, чем для микроскопии сканирующего зонда (SPM) (изготовление или обработка микроструктур  B81C; изготовление или обработка наноструктур  B82B 3/00; запись или воспроизведение информации с использованием взаимодействия ближнего поля  G11B 9/12,  G11B 11/24 или  G11B 13/08) [2010.01]
G01Q 90/00Методы сканирующего зонда или устройства, не предусмотренные в других группах данного подкласса [2010.01]

© 2014. Патинформбюро, В.И. Карнышев